Miller D.J., Maroni V.A., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Chen Z., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Feenstra R., Coulter J.Y., Civale L., Maiorov B., Feldmann D.M., Huang Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, nanoscaled effects, microstructure, chemical solution deposition, fabrication, nucleation, porosity, critical current, n-value, homogeneity, thickness dependence, pinning force, MOD process, critical current density, angular dependence, RABITS process, PLD process, Jc/B curves, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, critical current, homogeneity, critical caracteristics, experimental results, RABITS process, MOD process, fabrication, length
Ключевые слова: MgB2/Fe, tapes, doping effect, fabrication, Jc/B curves, PIT process, in-situ process, critical caracteristics
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Strickland N.M., Huang Y., Xia J.A.(j.xia@irl.cri.nz), Long N.J., Hoefakker P., Talantsev E.F.
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, coated conductors, MOD process, defects, critical current density, angular dependence, fabrication, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, geometry effects, critical current, current leads, experimental results, critical caracteristics
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Civale L., Maiorov B., Huang Y.
Rupich M.W., Schoop U., Verebelyi D.T., Thieme C.L., Buczek D., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Huang Y., Siegal E., Carter W., Nguyen N., Schreiber J., Prasova M., Lynch J., Tucker D., Harnois R., King C., Aized D.
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Strickland N.M., Huang Y., Xia J., Long N.J., Kennedy J., Markwitz A., Zondervan A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, MOD process, coated conductors, ion irradiation, defects, critical current, angular dependence, pinning, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Aytug T., Paranthaman M.P., Leonard K.J., Sathyamurthy S., Bhuiyan M.S., Kim K., Martin P.M., Li J., Fayek M.
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Martin P.M., Li J., Gapud A.
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Siegal E., Goyal A., Specht E.D., Verebelyi D.T., Holesinger T.G., Paranthaman M.P., Martin P.M., Civale L., Maiorov B., Li J., Huang Y.
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Kodenkandath T., Holesinger T.G., Civale L., Maiorov B., Huang Y., Arenal R.
Ключевые слова: MgB2, bulk, fabrication, precursors, phase formation
Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Jia Q.X., Verebelyi D.T., Chen Z., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Civale L., Maroni V., Maroni V., Huang Y., Rane M.V., Rane M.V., Feldman D.M.
Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Verebelyi D.T., Fleshler S., Huang Y., Carter W., Schreiber J., Prasova M., Tucker D.
Li X., Xiao L., Xiao L., Nishijima G., Awaji S., Watanabe K., Wu K., Zhang X., Ma Y.(ywma@mail.iee.ac.cn), Xu A., Jiao Y., Bai X., Wen H.
Ключевые слова: MgB2, doping effect, PIT process, Jc/B curves, microstructure, pinning force, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, pinning, defects, microstructure, doping effect, presentation, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.